Dielectric and optical properties of europium oxide films
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
architecture and engineering of nanoscale sculptured thin films and determination of their properties
چکیده ندارد.
15 صفحه اولInfluence of Co and Fe substitution on optical and structural properties of zinc oxide thin films
Zn0.97TM0.03O (TM = Co, Fe) thin films were deposited onto glass substrates by the sol–gel method and the effects of transition metals substitution on structural and optical properties of ZnO films were investigated. The X-ray diffraction patterns revealed that the films have wurtzite structure. Optical transmittance of the films was recorded in the range of 200 -800 nm wave length and the band...
متن کاملinvestigation of gassing behavior, electric and dielectric properties of different insulating fluids.
ترانسفورماتورهای قدرت از اجزای اصلی شبکه تامین انرژی الکتریکی می باشند که عملکرد قابل اطمینان ترانسفورماتورها یکی از فاکتورهای مهم و تعیین کننده در تامین انرژی الکتریکی محسوب می شود. در نتیجه بررسی و مانیتور عملکرد ترانسفورماتورها در شبکه و همچنین عیب یابی این ترانسفورماتورها غیرقابل اجتناب و ضروری می باشد. به طور کلی عایق های مایع در صنعت فشار قوی کاربردهای متفاوتی دارند که مهمترین وظیفه آنها...
15 صفحه اولStructural, Electrical and Optical Properties of Molybdenum Oxide Thin Films Prepared by Post-annealing of Mo Thin Films
Molybdenum thin films with 50 and 150 nm thicknesses were deposited on silicon substrates, using DC magnetron sputtering system, then post-annealed at different temperatures (200, 325, 450, 575 and 700°C) with flow oxygen at 200 sccm (standard Cubic centimeter per minute). The crystallographic structure of the films was obtained by means of x-ray diffraction (XRD) analysis. An atomic force micr...
متن کاملStructural, Electrical and Optical Properties of Molybdenum Oxide Thin Films Prepared by Post-annealing of Mo Thin Films
Molybdenum thin films with 50 and 150 nm thicknesses were deposited on silicon substrates, using DC magnetron sputtering system, then post-annealed at different temperatures (200, 325, 450, 575 and 700°C) with flow oxygen at 200 sccm (standard Cubic centimeter per minute). The crystallographic structure of the films was obtained by means of x-ray diffraction (XRD) analysis. An atomic force micr...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Thin Solid Films
سال: 1989
ISSN: 0040-6090
DOI: 10.1016/0040-6090(89)90556-7